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赤外透過評価・検査装置 - 株式会社モリテックス

赤外透過評価・検査装置 - 商品説明

  

価格 オープンプライス
納期 即納
型番/ブランド IRise
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赤外透過評価・検査装置

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よく使用される分野

モバイル家電(携帯電話、メディアプレーヤ、PND)、AV機器、ゲーム/アミューズメント、計測/検査/試験装置、産業用機器(制御機器、精密機器)、医療機器、航空/宇宙/鉄道/船舶、半導体製造装置

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赤外透過評価・検査装置
赤外透過評価・検査装置

照明・光学メーカーだからこそできるフレキシブルな対応非破壊・非接触でボイド/クラック/チッピング評価検査IRise(アイリス)低倍・高倍赤外ズームレンズを標準搭載し、0.75倍~40倍をカバーします。...

その他半導体製造装置 光学顕微鏡 ウェーハ欠陥検査装置 非破壊検査装置 故障解析装置

キーワードタグ: 透過 非破壊 内部検査 クラック 検査 非接触 厚み測定 赤外 ボイド 評価

企業基本情報

株式会社モリテックス
照明・光学メーカーだからこそできるフレキシブルな対応

非破壊・非接触でボイド/クラック/チッピング評価検査

IRise(アイリス)

低倍・高倍赤外ズームレンズを標準搭載し、0.75倍~40倍をカバーします。 また、画像貼り合せ機能により最大200×200mmの画像評価も可能!

デモ評価も出来ますので、お気軽にお声掛けください。

営業担当:井上
ji0261@moritex.co.jp
住所 〒225-0012
神奈川県神奈川県横浜市青葉区あざみ野南1-3-3
電話番号 045-913-5149

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半導体製造装置用部材 ウェーハ欠陥検査装置

キーワードタグ: 非接触 チップ レンズ ウエハ ソーラーリサーチ研究所 搬送 ベルヌーイチャック ピンセット

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